Adapté à la plupart des microscopes droits, le H105-F fait partie de la large gamme d'étages ProScan® conçus avec précision. Grâce à sa grande plage de déplacement, il peut recevoir de grands échantillons, y compris des plaquettes semi-conductrices, des masques photographiques et des cartes de circuits imprimés, ce qui le rend idéal pour les applications en science des matériaux. Les porte-échantillons interchangeables permettent d'utiliser la lame pour une grande variété d'applications. Avec une haute résolution et une excellente répétabilité, le H105N2F est idéal pour les applications haut de gamme en science des matériaux.
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