Système de mesure de surface optique TopMap Micro.View

3Dinterférométriqueavec interférométrie en lumière blanche

Profileur optique compact pour les microstructures et la rugosité TopMap Micro.View® est le profilomètre de surface compact de la gamme TopMap d'interféromètres à lumière blanche. Il permet des inspections de surface répétables et à haute résolution des microstructures, de la texture, de la surface et des paramètres de rugosité surfacique (Sa, Sz, ...). Scannez vos surfaces rapidement et avec une résolution inférieure au nm ! Grâce à la technologie de balayage continu CST intégrée, la course de 100 mm dans l'axe Z offre une plage de mesure complète de 100 mm avec une résolution verticale de l'ordre du nanomètre. Ce profilomètre optique se caractérise par sa conception compacte avec électronique intégrée et impressionne par sa facilité d'utilisation - par exemple, grâce à la fonction automatique Focus Finder pour des mesures rapides et efficaces dans les environnements de production et les laboratoires d'essai. + Analyse topographique complète en surface et en 3D de la rugosité, des textures et des microstructures + Système de profilage compact pour l'analyse des détails de la surface Système de profilage compact pour l'analyse des détails de la surface + Large plage de mesure verticale de 100 mm avec la technologie de balayage continu CST + Excellente résolution latérale + Objectifs spécifiques à l'application + Mesure avec une résolution inférieure au nanomètre + NOUVEAU : options d'objectifs élargis 0,6X ... 111X désormais disponibles Contactez-nous pour des démonstrations, des études de faisabilité sur vos échantillons spécifiques et plus d'informations.