Microscope sous ultra vide poussé NX-Hivacà force atomiquede mesureCCD
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Caractéristiques
- Type
- à force atomique
- Applications
- de mesure
- Type de détecteur
- CCD
- Autres caractéristiques
- à grande distance de travail, sous ultra vide poussé
- Résolution spatiale
1 µm
Description
Le Park NX-Hivac est un microscope à force atomique sous vide poussé destiné à l'analyse des défaillances et à la recherche sur les matériaux sensibles à l'atmosphère.
Le balayage sous vide poussé offrant une plus grande précision et une meilleure répétabilité que les conditions ambiantes ou le N2 sec, les utilisateurs peuvent, par exemple, mesurer une large gamme de concentrations de dopants et de réponses aux signaux dans les applications d'analyse des défaillances.
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.