Microscope à force atomique NX-TSH

pour inspection d'écrans platsde mesurede métrologie

Tête de balayage Park NX-Tip - Système automatisé de microscopie à force atomique (AFM) pour mesurer des écrans plats ultra grands et lourds à l'échelle nanométrique Pour répondre à la demande croissante de métrologie AFM sur les écrans plats de grande taille, Park Systems a lancé la tête de balayage NX-Tip, qui relève les défis de la nanométrologie pour les échantillons de plus de 300 mm et de plus de 1 kg. La tête de balayage à pointe (TSH) est une tête à pointe mobile conçue spécifiquement pour les mesures et les analyses AFM automatisées sur de grands échantillons tels que les écrans OLED et LCD. Avec la Park NX-TSH, des images AFM fiables et de haute résolution peuvent être obtenues sur des OLED, des LCD, des photomasques et plus encore, en utilisant un système de pont de style portique pour améliorer la productivité et la qualité.