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Luxmètre-spectrophotomètre en réflexion ETA-ARC
benchtop

Luxmètre-spectrophotomètre en réflexion - ETA-ARC - OptoTech - benchtop
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Caractéristiques

Mode de mesure
en réflexion
Autres caractéristiques
benchtop

Description

Spectrophotomètre ETA-ARC Système de mesure rapide, précis et facile à utiliser pour les revêtements ophtalmiques antireflets et durs Domaines d'application Mesure des propriétés du revêtement : Réflexion résiduelle ; Couleur et correspondance des couleurs (dE-Lab) ; Epaisseur de couche du revêtement dur (HC simple et double couche) Faits saillants La mesure peut être effectuée directement sur les verres ophtalmiques courbés sans préparation spéciale du dos La face avant et la face arrière peuvent être mesurées individuellement Mesure d'un côté de l'antireflet et de la couche dure Gamme spectrale 380 à 1050 nm

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Catalogues

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