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Système de métrologie pour wafers QS2200™pour semiconducteurs
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Caractéristiques
- Type
- pour wafers, pour semiconducteurs
Description
Analyse non destructive de plaquettes
Aperçu des produits
Le système QS2200 est un outil de métrologie FTIR spécialement conçu pour l'analyse non destructive des plaquettes. Il est utilisé pour la caractérisation et la mesure de matériaux semi-conducteurs ainsi que pour la fabrication de dispositifs.
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Catalogues
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.