Spectromètre d'émission optique VeOS

à émission optique à étincellesde laboratoirepour l'analyse

Doté d'une technologie de détection de pointe basée sur des détecteurs à semi-conducteurs spécialement développés pour la spectroscopie d'émission, le spectromètre d'étincelles VeOS d'OBLF permet une analyse polyvalente, flexible et rapide de tous les matériaux métalliques courants. Le spectre analytique comprend également l'analyse précise d'éléments de courte longueur d'onde comme l'azote ou le carbone faible. AvantagesInclusion complète et flexible de toutes les tâches d'analyseCaractéristiques facilement extensiblesLa dernière technologie de détection spécialement développéeExcellente performance en termes de limite de détection, de précision, le VeOS d'OBLF est le premier spectromètre d'étincelles à être équipé d'un système de détection à semi-conducteurs dont les performances analytiques - y compris la résolution spectrale requise pour un spectromètre de laboratoire - sont tout aussi bonnes que celles des systèmes à photomultiplicateurs établis. Cette toute nouvelle technologie de photodétecteur a été spécialement développée pour la spectroscopie d'émission d'étincelles et garantit d'excellents résultats sur toute la plage de longueurs d'onde requise de 130 à 800 nm. La conception des détecteurs photosensibles, qui se caractérisent par une surface 100 fois plus sensible à la lumière que les détecteurs des systèmes classiques, a été spécialement adaptée aux exigences de la spectroscopie d'émission.