Microscope optique ZTX-S series
d'inspectionpour semi-conducteurpour composants électroniques

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Caractéristiques

Type
optique
Applications
d'inspection, pour semi-conducteur, pour composants électroniques
Ergonomie
droit
Tête du microscope
monoculaire
Technique d'observation
tridimensionnel
Configuration
de paillasse
Source de lumière
à illumination LED
Type de détecteur
CCD
Autres caractéristiques
haute résolution, à zoom, pour semi-conducteur

Description

Le microscope zoom de la série ZTX-S adopte un système d'imagerie optique, avec une haute résolution, une définition fine et un sens aigu de la tridimensionnalité, ainsi qu'un fonctionnement facile. Le microscope est largement utilisé dans les semi-conducteurs et les cartes de circuits intégrés dans l'industrie électronique, l'agriculture et l'enseignement de l'industrie électronique et de l'instrumentation pour l'inspection, l'assemblage et la réparation de pièces de précision.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.