Machine d'inspection à rayons X XT H Series

pour tomographie numériqueindustriellepour l'industrie électronique

Systèmes de tomographie numérique (CT) polyvalents à microfoyers de Nikon pour l’inspection HR de pièces et objets allant de petits connecteurs à des pièces moulées en aluminium dans le cadre de la Recherche et Développement, de l’analyse de défaillance, ducontrôle qualité ou production. Des solutions polyvalentes pour les applications d’inspection les plus exigeantes Ces systèmes combinent une grande polyvalence – indispensable en laboratoire – avec des caractéristiques uniques telles que la Rotating.Target 2.0 225 kV, le mode d’acquisition CT Half Turn et le contrôle automatique du filament et ce, afin de réduire le temps de cycle et d’augmenter le temps de fonctionnement lorsqu’ils sont utilisés pour l’inspection en série en production. La polyvalence dont vous avez besoin Les systèmes XT H sont polyvalents et vous permettent de réaliser de nombreuses tâches d’inspection grâce à un large choix de sources, de cibles, de modes d’acquisition et d’options comme l’ajustement motorisé de la distance entre la source et le détecteur. X.Tend Helical CT Les objets de grande taille peuvent être numérisés en un seul processus d’acquisition, ce qui élimine entre autres, les artefacts introduits par le faisceau conique et l’assemblage de plusieurs scans. Cela offre également l’avantage de numériser des objets avec un grossissement plus important, ce qui se traduit par une résolution nettement plus élevée. Technologie exclusive Rotating.Target 2.0 225 kV Permet des acquisitions continues jusqu’à 450 W avec une résolution jusqu’à trois fois plus élevée pour la même puissance ou une acquisition de données trois fois plus rapide pour une résolution donnée.