Microscope électronique ECLIPSE L300N series

d'inspectionpour l'industrie électroniquedroit

La gamme de microscopes pour semi-conducteurs ECLIPSE L300ND, L300N et L200ND, L200NA de Nikon est idéale pour l’inspection des circuits intégrés (CI), des écrans plats, des dispositifs électroniques à intégration à grande échelle (LSI) et pour de nombreuses autres applications. Microscopes à semi-conducteurs avancés pour l’inspection des dernières fabrications Les optiques Nikon CFI60-2 d’excellente qualité fournissent des images parfaites aux deux oculaires et aux caméras d’imagerie numérique avec logiciel d’analyse de Nikon. La combinaison de ces optiques haute performance avec un système d’éclairage de pointe permet d’obtenir des images d’un contraste et d’une résolution remarquable. Nikon ECLIPSE L300N(D) et L200N(D) Ces microscopes sont destinés à l’inspection optique ultra précise des wafers (200 mm pour la série L200N et 300 mm pour la série L300N), des réticules et autres substrats. Série d’optiques CFI60-2 de Nikon La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie claires, notamment le contraste élevé, le fond clair, le fond noir, la polarisation (POL), le contraste interférentiel différentiel (DIC) et l’interférométrie à deux ondes.