Microscope numérique Eclipse LV150NA
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Microscope numérique - Eclipse LV150NA - Nikon Metrology - d'inspection / industriel / droit
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Caractéristiques

Type
numérique
Applications
d'inspection, industriel
Ergonomie
droit
Technique d'observation
à champ clair, à fluorescence, polarisé, à fond noir, à contraste interférentiel différentiel, DIC
Configuration
de bureau
Autres caractéristiques
à grande distance de travail, modulaire, pour semi-conducteur
Poids

8,7 kg
(19,2 lb)

Longueur

362 mm
(14,3 in)

Largeur

251 mm
(9,9 in)

Hauteur

519 mm
(20,4 in)

Description

Une gamme de microscopes droits flexibles et modulaires pour plusieurs techniques de contraste optique épiscopique (champ clair, sombre, DIC, polarisé, à fluorescence, interférométrique). Associés à des accessoires d’imagerie numérique et à de grandes courses X-Y de la platine, ces instruments sont idéaux pour l’inspection des semi-conducteurs et des matériaux. Microscopes droits modulaires, motorisés et manuels Les optiques Nikon CFI60-2 d’excellente qualité produisent des images parfaites aux deux oculaires et aux caméras d’imagerie numérique de Nikon avec un logiciel d’analyse. Grâce à sa conception modulaire, le microscope universel permet d’utiliser des techniques de contraste optique complémentaires sur un seul support de microscope. Nikon ECLIPSE LV150NA et LV150N Ces microscopes à éclairage épiscopique sont utilisés pour inspecter les semi-conducteurs, les matériaux et les composants industriels. Ils sont également adaptés aux applications de recherche et de développement. Série d’optiques Nikon CFI60-2 La conception innovante de Nikon autorise des techniques d’imagerie de contraste optique nettes et très contrastées, en fond clair, fond noir, polarisation (POL), contraste interférentiel différentiel (DIC) et interférométrie à deux ondes. Appareil photo Nikon Digital Sight Tous les appareils photo de la gamme Digital Sight de Nikon peuvent capturer les images d’un échantillon et les transmettre au logiciel de traitement d’images de la suite NIS-Elements, accompagnées des données du microscope sur la lentille objectif, le réglage du grossissement et l’intensité lumineuse, en cas d’utilisation du contrôleur LV-ECON E.

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