Microscope à force atomique LensAFM

de mesurepour analysed'inspection

Le Nanosurf LensAFM est un microscope à force atomique qui intervient là où les microscopes optiques et les profilomètres atteignent leurs limites de résolution. Il est monté comme un objectif normal, étendant ainsi la résolution et les capacités de mesure de ces instruments. Le LensAFM fournit non seulement des informations sur la topographie de surface en 3D, mais il peut également être utilisé pour analyser diverses propriétés physiques d'un échantillon de mesure. Intégration transparente Dans un nombre croissant de situations, les chercheurs cherchent à combiner les techniques de microscopie optique et de microscopie à force atomique. La facilité d'utilisation, la capacité de criblage et les exigences minimales de préparation des échantillons des microscopes optiques sont presque inégalées. Cependant, lorsque la résolution d'un objectif 100x n'est pas suffisante pour examiner de petites caractéristiques au-delà de la résolution de l'instrument, le LensAFM entre en jeu. Sa conception exceptionnellement petite et son mécanisme de montage astucieux signifient qu'il vous suffit de tourner la tourelle de votre microscope optique ou de votre profilomètre et de lancer le balayage. Améliorez votre microscopie optique avec l'AFM pour une meilleure compréhension La résolution de la microscopie optique étant limitée par la longueur d'onde de la lumière, il existe une barrière dans la résolution que vous pouvez atteindre avec votre système optique. Dans un nombre croissant d'applications, il est donc nécessaire de combiner la microscopie optique et la microscopie à force atomique. En outre, l'AFM permet de résoudre les problèmes de caractérisation des échantillons transparents ou des échantillons difficiles à évaluer optiquement. Mais la topographie grossière d'un échantillon n'est pas la seule à présenter un intérêt : L'AFM permet également d'acquérir des connaissances sur d'autres propriétés des matériaux,