Microscope AFM Alphacen 300

industrielautomatisé

Le système Alphacen 300 est une solution AFM unique qui permet de manipuler facilement des échantillons lourds et de grande taille. Il est équipé de la tête de balayage Flex-Mount, dont la conception pointe-scanner permet une imagerie de haute performance quelle que soit la taille ou le poids de l'échantillon. Le contrôleur CX, le contrôleur AFM le plus avancé de Nanosurf, offre un contrôle rapide et précis du processus de balayage. L'enceinte acoustique dédiée réduit les bruits et les vibrations externes. De plus, le système peut être personnalisé avec des axes de translation ou de rotation supplémentaires pour s'adapter à votre échantillon spécifique. Aucun autre système AFM n'offre une telle polyvalence et une telle fonctionnalité. - La conception du scanner à pointe garantit une imagerie de haute qualité, quels que soient la taille et le poids de l'échantillon - Échantillons jusqu'à 300 mm x 300 mm et 45 kg - Une enceinte acoustique dédiée pour minimiser les bruits et les vibrations externes - Peut servir de base à des solutions personnalisées Conception du scanner à pointes de qualité recherche Utilisant la technologie éprouvée de la tête de balayage de recherche du FlexAFM de Nanosurf, l'Alphacen 300 fournit une imagerie de haute qualité et des performances fiables. Le scanner présente une conception de pointe basée sur la flexion qui assure un balayage plat et linéaire, une haute résolution et un fonctionnement stable. Échantillons lourds et de grande taille L'Alphacen 300 est un AFM à balayage de pointe qui peut traiter facilement des échantillons lourds et de grande taille. Cet appareil permet de mesurer des échantillons d'une taille allant jusqu'à 300 mm x 300 mm et d'un poids allant jusqu'à 45 kg. La platine d'approche en z de 50 mm vous permet également de monter des échantillons épais sans aucun problème.