Microscope à force atomique NaioAFM

pour inspection de surfacede mesurepour mesure de rugosité de surface

Le NaioAFM est le microscope à force atomique idéal pour la nanoéducation et la recherche fondamentale sur de petits échantillons. Ce système AFM tout-en-un offre des performances solides et une manipulation aisée, avec un prix et un encombrement qui conviennent à tout le monde et à n'importe quel endroit. - Système AFM tout-en-un prêt à l'emploi - Tous les modes de fonctionnement standard - Facile à utiliser Système AFM tout-en-un prêt à l'emploi Le système NaioAFM se compose uniquement de la tête de balayage montée sur une petite plate-forme d'isolation des vibrations avec un contrôleur intégré. Il ne faut que quelques minutes pour l'installer et préparer une mesure. Idéal pour un cours universitaire ou une salle de classe, le NaioAFM est conçu de manière robuste et insensible aux manipulations imprudentes des utilisateurs novices, tout en étant performant sur une grande variété d'échantillons. Tous les modes de fonctionnement standard Malgré sa conception de base, le NaioAFM dispose d'une sélection polyvalente de modes de mesure. Le NaioAFM est capable d'effectuer des mesures dans tous les modes de fonctionnement standard, et il peut même effectuer une caractérisation électrique de base et une spectroscopie de force de base. Si vous apprenez l'AFM ou si vous n'avez besoin que des fonctions AFM de base pour vos recherches, le NaioAFM est l'instrument de choix depuis plus d'une décennie. L'apprentissage ne prend que 10 minutes Le NaioAFM est le microscope à force atomique le plus facile à utiliser jamais construit. Grâce à l'aide à la manipulation intégrée, comme la puce d'alignement du cantilever, vous n'avez même pas besoin d'avoir les mains parfaitement stables pour configurer cet AFM en vue d'une mesure. Il ne nécessite même pas d'alignement laser - il suffit de tout connecter, de placer un cantilever et votre échantillon, et vous obtiendrez vos premiers résultats en quelques minutes.