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Appareil de test automatique AT4080
de waferdifférentielà grande vitesse

Appareil de test automatique - AT4080 - Multilane - de wafer / différentiel / à grande vitesse
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Caractéristiques

Mode de fonctionnement
automatique
Produit testé
de wafer
Technologie
différentiel
Autres caractéristiques
à grande vitesse

Description

L'AT4080 fait partie de la famille d'instruments à grande vitesse de Multilane pour les tests de silicium conditionné et de plaquettes de silicium à haut volume de production. L'AT4080 est une extension entièrement intégrée de l'expérience des testeurs V93000, tirant pleinement parti des outils logiciels V93000 Smartest et des mécanismes d'amarrage. L'AT4080 comprend 4 canaux de transmission différentielle qui peuvent être synchronisés avec d'autres instruments AT de la gamme V93000. Les instruments Multilane sont placés directement sous le tableau de charge, ce qui permet de réduire au minimum la longueur du câble coaxial entre les instruments et l'appareil à tester (DUT). Les connexions coaxiales SMPM Blindmate entre les instruments et le tableau de charge permettent un changement rapide du tableau de charge du DUT pendant les tests de production.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.