Station de mesures sous pointes cryogénique CPS-XXX-CF-PLUS

semi-automatique

Les modèles CPS-XXX-CF-PLUS permettent de tester rapidement et de manière rentable des plaquettes et des dispositifs à des températures cryogéniques allant jusqu'à 9K (système CCR simple), 4,5K (système CCR double) ou même en dessous de 4K (système CCR triple). Nous proposons des systèmes pour tester des wafers de 100mm, 150mm, 200mm ou 300mm avec des capacités de verrouillage de charge en option. Les systèmes peuvent être configurés avec des bras de sonde individuels (en option avec des sondes en coin) ou avec des supports de carte de sonde. Le sondage haute densité avec >100 sondes DC est possible. Ces systèmes sont idéaux pour le domaine émergent de l'informatique quantique ainsi que pour les domaines établis de l'électronique supraconductrice. Caractéristiques - Bras de sondes avec réglage manuel externe du micromanipulateur. - Options CCR multiples. - La configuration standard comprend un tube zoom 7:1X pour une résolution supérieure à 4 μm. 12.des objectifs de zoom 5:1 et 16:1 sont également disponibles. - Isolation efficace des vibrations de la pompe à vide. - Blindage magnétique passif et/ou actif en option.