Équipement de test de semi-conducteur VIP EXTENDED

de qualitéautomatiquede wafer

Équipement de test automatique configurable pour les produits de puissance en Si, SiC et GaN ; circuits de commande côté haut et côté bas, IGBT, MOSFET de puissance, circuits de puissance. Points forts : - UPH élevé pour le tri des wafers et le test des bandes - Test parallèle 48 x site pour Rg, Cg et UiS - COT le plus bas pour les produits de puissance Caractéristiques principales : - Sources DC [4 quadrants référencés à la terre] Puissance moyenne : jusqu'à 64 ressources [±110V, ±4A] - Courant continu programmable (source/source) : jusqu'à 64 ressources [jusqu'à ±250A] - Canaux numériques : jusqu'à 320 canaux [niveau de sortie de -1,25V à 6,75V, 50mA, charge active ±12mA, 64M de mémoire de motifs/ch, 32M de mémoire DSIO/ch, un PPMU par canal] - Unité de mesure du temps jusqu'à 64 - Pilote numérique flottant : jusqu'à 192 - Compteurs LCR : jusqu'à 64 - PPMU : jusqu'à 64 - Picomètres : jusqu'à 64 [précision de 20pA] - Charges inductives et résistives jusqu'à 64 x2 Dimensions de l'appareil - Hauteur : 350 mm - Largeur : 600 mm - Profondeur : 640 mm