Équipement de test de semi-conducteur HATINA GP

de qualitéautomatisépour composants électroniques

L'ATE à usage général pour ASIC, PMIC et Smart Power Le HATINA GP est conçu pour tester des circuits intégrés et des systèmes de puissance complexes. Recommandé pour un parallélisme élevé. Points forts : - Le multiplexeur intégré réduit la complexité de la carte de charge - L'efficacité des tests parallèles >99% fournit le meilleur COT de sa catégorie - L'instrumentation modulaire s'aligne sur les besoins du marché et de la technologie - Un encombrement réduit et une consommation d'énergie moindre améliorent le retour sur investissement - Le développement automatisé des programmes de test améliore le temps de mise sur le marché - Outils logiciels révolutionnaires (Kronos) Caractéristiques principales : - Sources DC [IV quadrants référencés à la terre] Faible puissance : jusqu'à 160 ressources par emplacement [±110V, ±200mA] - Sources DC [IV quadrants référencés à la terre] Moyenne puissance : jusqu'à 80 ressources par slot [±110V, ±4A] - DC [IV quadrants Fully Floating] Sources High Power : jusqu'à 16 ressources par slot [±80V, ±10A] - Canaux numériques : jusqu'à 256 canaux par emplacement [niveau de sortie de -1,25V à 6,75V, 50mA, charge active ±12mA] - Canal numérique LF II°Gen @200MHz jusqu'à 1024 - DPS HC [Digital Power Supply - High Current] 5.5V@10A jusqu'à 80 - DPS LC [alimentation numérique - courant faible] 7V@1A jusqu'à 256 - Canal numérique HF @800MHz jusqu'à 256 - Unité de mesure du temps et compteur différentiel, AWG et numériseur - OPTION : -HV option - Unité de mesure du temps jusqu'à 64 - Pilote numérique flottant jusqu'à 192 - Compteurs LCR : jusqu'à 64 - PPMU : jusqu'à 64 - Picomètres : jusqu'à 64 [précision de 20pA] - Charges inductives et résistives jusqu'à 64 x 2 Dimensions de l'appareil - Hauteur : 700 mm - Largeur : 670 mm - Profondeur : 640 mm