Appareil de test de semi-conducteur HATINA 4S

de qualitéautomatiquepour circuits imprimés

SOLUTION TRÈS COMPACTE POUR LE TEST DES DISPOSITIFS MEMS ATE flexible et peu coûteux, pour les marchés très parallèles et peu complexes tels que les MEMS, les circuits ouverts/courts et la logique grand public. Points forts : - V/I et DPS à nombre de broches élevé - Nombre élevé de broches numériques - Mux intégré pour une flexibilité extrême - Encombrement nul, faible coût par site - Intégration facile de l'automatisation Caractéristiques principales : - 2 sources DCS_1A (force et détection) multiplexées en 256 positions différentes par module - 12 canaux numériques multiplexés en 256 positions différentes par module - 20 canaux numériques directs par module Dimensions de l'appareil - Hauteur : 538 mm - Largeur : 360 mm - Profondeur : 330 mm