Système d'inspection à rayons X X36 Series DXD+
AMDà rayons X par dispersion d'énergieautomatisé

Système d'inspection à rayons X - X36 Series DXD+ - Mettler Toledo  - AMD / à rayons X par dispersion d'énergie / automatisé
Système d'inspection à rayons X - X36 Series DXD+ - Mettler Toledo  - AMD / à rayons X par dispersion d'énergie / automatisé
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Caractéristiques

Technologie
à rayons X, AMD, à rayons X par dispersion d'énergie
Mode de fonctionnement
automatisé
Applications
pour l'industrie de l'emballage

Description

Technologie de détection avancée. Le système de détection à double énergie de pointe DXD+, qui peut être intégré au X36, assure une détection inégalée des contaminants difficiles à détecter, tels que les os calcifiés, le caoutchouc et le verre dans les produits texturés et qui se chevauchent. Une détection qui dépasse les exigences La technologie de détection DXD+ permet de dépasser les attentes du secteur en matière de détection des contaminants et de répondre aux spécifications les plus exigeantes des clients. Inspection améliorée avec logiciel AMD Grâce à notre logiciel AMD doté des derniers algorithmes de différenciation avancée des matières, le DXD+ garantit une détection des contaminants optimale. Des fonctionnalités conviviales La configuration automatisée des produits et le logiciel ingénieux optimisent la disponibilité, diminuent les coûts et améliorent la sensibilité de détection, tout en réduisant les taux de faux rejets

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.