La puissance de votre automatisation industrielle répond à notre technologie de diffraction des rayons X de nouvelle génération. Le Wafer XRD 300 est un module de métrologie ultra-rapide et de haute précision pour l'orientation des cristaux et le contrôle de la géométrie des wafers.
Présentation
Découvrez le Wafer XRD 300 : votre module de diffraction des rayons X haute vitesse pour la production de wafers de 300 mm fournissant des données clés sur une variété de paramètres essentiels tels que l'orientation des cristaux et des caractéristiques géométriques telles que les encoches, les méplats et bien plus encore ; conçu pour s'intégrer parfaitement à votre ligne de traitement.
Fonctionnalités et avantages
Précision ultra-rapide grâce à notre technologie d'acquisition exclusive
La méthode utilisée ne nécessite qu'une seule rotation d'acquisition pour recueillir toutes les données nécessaires à la détermination complète de l'orientation des cristaux, ce qui offre une grande précision pour un temps de mesure très faible, de l'ordre de quelques secondes.
Manipulation et tri entièrement automatisés
Le Wafer XRD 300 est conçu pour maximiser votre rendement et votre productivité. Son intégration complète à votre automatisation de la manipulation et du tri en fait un complément puissant et efficace de votre processus.
Connectivité simple
L'automatisation puissante du Wafer XRD 300 s'intègre facilement à votre processus nouveau ou existant, car il est compatible avec les interfaces MES et SECS/GEM.