Capable de mesurer des cristaux dès 1 mm de taille, le SDCOM utilise la méthode d'acquisition azimutale pour déterminer avec précision l'orientation complète du réseau des cristaux uniques en une seule rotation de mesure et en seulement quelques secondes. Adapté à la fois au contrôle qualité de la recherche et de la production, le SDCOM polyvalent et accessible s'intègre facilement à une large gamme d'étapes de processus de wafers et lingots et ne nécessite pas de refroidissement par eau.
Présentation
La mesure rapide et précise de l'orientation du cristal n'a jamais été aussi accessible : découvrez le SDCOM, votre système XRD compact et convivial. La méthode d'acquisition azimutale permet des mesures ultra-rapides, avec un retour des résultats en moins de cinq secondes.
Le SDCOM offre le plus haut niveau de précision, jusqu'à 0,01o, et avec une grande variété de porte-échantillons et de dispositifs de transfert, y compris une option de marquage pour la direction latérale du cristal. Ce système compact facile à utiliser est la solution idéale pour de nombreuses applications dans le traitement des wafers et la recherche.
Fonctionnalités et avantages
Ultra-rapide et précis : méthode d'acquisition azimutale
La méthode d'acquisition azimutale ne nécessite qu'un seul cercle de mesure pour recueillir toutes les données nécessaires à la détermination complète de l'orientation, ce qui offre une grande précision pour un temps de mesure très faible, de l'ordre de quelques secondes.
L'échantillon est tourné à 360°, la source de rayons X et le détecteur étant positionnés de manière à obtenir un certain nombre de réflexions par tour.