Spectromètre à rayons X Epsilon 1

à fluorescence Xpour analyses élémentairesd'inspection

Avez-vous besoin d'une analyse élémentaire de petits objets ou de petites inclusions dans des appareils électroniques, jouets, bijoux, roches ou produits finis ? L'Epsilon 1 pour analyse de cartographie élémentaire, un spectromètre de fluorescence X compact avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm, est la solution analytique idéale pour une analyse modulable et précise. En raison de sa conception autonome et de son faible encombrement, l'Epsilon 1 peut être placé à proximité de l'emplacement échantillon, ce qui fait de l'instrument une solution idéale pour toute analyse élémentaire sur les sites de production, les sites d'exploration, le comptoir d'un magasin, voire sur des scènes de crime pour les enquêtes médico-légales. Les performances du spectromètre répondent aux méthodes de test standard requises par différentes directives et réglementations sur divers marchés de l'industrie, comme la RoHS-3 pour les composants électroniques et la CPSIA pour de nombreux biens de consommation. Quantification robuste et modulable Des résultats immédiats sont fournis pour une vaste gamme d'applications, comme l'inspection de la RoHS-3, des DEEE, des VHU, des jouets, des bijoux, des roches et des produits finaux. Cela est possible grâce à Omnian, le progiciel d'analyse sans étalon de pointe de PANalytical, également utilisé sur les instruments de spectrométrie de fluorescence X plus avancés.