JF-5Instrument d'orientation des rayons X à grande fréquence
Fonction
Cet appareil adopte le principe de diffraction des rayons X, et c'est l'instrument de précision se compose d'optique, mécanique et électrique. Il permet de mesurer rapidement l'orientation de toutes sortes de plans cristallins et s'adapte aux équipements de tranchage, de polissage, de traitement, etc.
Caractéristiques
1.Utilise la puissance haute fréquence et haute tension de pointe, a augmenté la force des rayons X, spécialement conçu pour le cristal dont la valve de pointe est très faible. Comme le diamant.
2.Le porte-échantillon adopte un terme rotatif automatique, pratique pour la mesure des cristaux en quatre points, et il est facile d'observer l'angle de rotation pendant le traitement, évitant ainsi l'erreur causée par le processus manuel.
3.Annuler le processus de roue à main, et prend l'utilisation de type fermé complet, seulement en touchant légèrement l'écran ou l'obturateur de pied et de réaliser l'étalonnage wafer et la mesure de cristal.
4.Utilise la commande PLC technique, haute maintenance automatique et peu d'entretien, la stabilité est bonne
5.Avec la fonction d'impression de données, connexion USB, et il peut exporter EXCEL et charger dans l'ordinateur.
6.Conception de circuits modulaires, facilité d'entretien, de maintenance, de réparation.
7.En fonction de l'échantillon mesuré, de faire la personnalisation de la machine et le montage divers, d'assurer la précision de mesure et de la facilité d'utilisation.
8.Il peut mesurer automatiquement le wafer ou le lingot et adapté à chaque contrôle d'angle de process, améliorer le taux de qualification.
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