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- Système de cristallographie à rayons X
- Liaodong Radioactive Instrument
Système de cristallographie à rayons X JF-2
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Caractéristiques
- Spécifications
- à rayons X
Description
Objet : L'instrument d'analyse des cristaux à rayons X est principalement utilisé pour
par la recherche de la microstructure interne de la substance, par exemple, une seule cr
ystal, examiner les défigurations, la direction de la substance,
mesurer le paramètre de treillis, mesurer la contrainte résiduelle, etc.
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Catalogues
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X-ray Crystal Analytical Instrument
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