Système de mesure d'orientation YX-6D/6DA

à rayons Xpour wafer

Cet instrument est spécialement utilisé pour la mesure de l'orientation de la barre monocristalline de silicium, il peut être utilisé avec YX-5Z/6Z et un dispositif de coupe à lignes multiples. Sa plus grande caractéristique est qu'il peut calculer directement l'angle de déflexion, la valeur X & Y de la barre cristalline après la mesure d'orientation, et peut mesurer avec précision la valeur d'angle de la plaquette partielle. Structure : L'instrument d'orientation monocristallin en silicium YX-6D se compose d'un contrôleur de rayons X, d'un dispositif angulaire, d'un enregistreur, d'un obturateur optique électromagnétique, d'un microcontrôleur, d'un clavier, d'un afficheur d'entrée, d'un afficheur de menu, d'un afficheur de données, d'un affichage angulaire et de la valeur maximale. Le logiciel de comptage s'applique avec la méthode de calcul commune internationale, avec unité de degré, affiche une précision minimale de 0,001 degré, la définition de la mesure est ±0,008degree（±30〃）, ce produit peut mesurer 3-12 pouces de diamètre, longueur 500mm 111,100 surface cristalline, etc.