Potence pour microscope XL Stand

Le statif Leica XL, solution modulaire , permet le contrôle de grands échantillons à de forts grossissements stéréoscopiques dans les applications de contrôle de circuits imprimés, de traces d'outil dans les expertises judiciaires ou d'examen de documentations et de contrôle TFT/LCD. La platine XY (optionnelle) intègre un tapis ESD spécial à raccord encliquetable, qui combiné au grand socle, permet de mettre le système à la masse afin d'éviter toute détérioration des composants électroniques par des décharges ESD. La platine XY (optionnelle) peut recevoir les échantillons de grande taille, jusqu'à 400 X 450 mm et les platines à course de 300 X 300 mm permettent de manipuler des échantillons jusqu'à 12'' X 12'', ainsi des documents de format A4 peuvent être contrôlés en une seule fois sans repositionnement.