Système de préparation d'échantillons EM RES102

Le Leica EM RES102 vous permet d'affiner, de nettoyer, de polir, de tailler des pentes et de structurer vos échantillons avec le plus haut niveau de flexibilité. Le système unique de fraisage par faisceau d'ions combine la préparation des échantillons TEM, SEM et LM dans une seule unité de table. Une variété de porte-échantillons permet d'effectuer une gamme variée d'applications. En plus du broyage par faisceau d'ions à haute énergie, le Leica EM RES102 peut également être utilisé pour un traitement très doux des échantillons en utilisant une faible énergie ionique. Caractéristiques principales Efficacité et rentabilité - Un système unique pour les applications TEM, SEM et LM - préparation au MEB d'échantillons jusqu'à 25 mm de diamètre - Amélioration de l'efficacité de la préparation des échantillons TEM grâce à la production de grandes zones transparentes aux électrons pour l'analyse TEM - capacité de réseau local pour le contrôle et la surveillance à distance Safe Programmation complète des mouvements motorisés de la source d'ions et de l'échantillon pour des résultats reproductibles Spécimens indigènes Refroidissement de l'étage d'échantillonnage LN2 pour maintenir l'intégrité des échantillons sensibles à la température Une utilisation facile - Bibliothèque d'applications intégrées - Fichiers d'aide intégrés et vidéos tutorielles pour les débutants et la maintenance