RAPID™ introduit des capacités avancées de traitement, de surveillance en temps réel et de diagnostic pour assurer la meilleure qualité et l'assemblage efficace d'applications semi-conductrices de haute performance et de haute fiabilité.
Caractéristiques principales :
Suivi des processus et des performances en temps réel
Surveillance en temps réel de l'état de santé de l'équipement
Analyse et traçabilité avancées des données
Surveillance et analyse de la maintenance prédictive
Détection et inspection après collage améliorée
Configurations des zones collables :
RAPID LA (grande surface)
RLE RAPIDE (grande surface étendue)
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