Le testeur nanomécanique universel NanoFlip dispose d'un mouvement XYZ de haute précision pour positionner l'échantillon à tester et d'un mécanisme de retournement pour positionner l'échantillon pour l'imagerie. Le logiciel InView est livré avec une série de méthodes d'essai qui couvrent un large éventail de protocoles d'essai, et permet également aux utilisateurs de créer leurs propres méthodes d'essai. L'actionneur InForce 50 fonctionne aussi bien dans le vide que dans des conditions ambiantes. Le logiciel InView permet d'enregistrer des images MEB ou d'autres images de microscope et de les synchroniser avec les données d'essais mécaniques. La technologie révolutionnaire FIB-to-Test permet d'incliner l'échantillon de 90°, ce qui permet de passer en douceur du FIB à l'essai d'indentation sans avoir à retirer l'échantillon.
- Large gamme de méthodes d'essais nanomécaniques préprogrammées pour une plus grande facilité d'utilisation
- Actionneur InForce 50 pour la mesure du déplacement de la capacité et l'actionnement de la force électromagnétique avec des pointes interchangeables
- Contrôleur électronique à grande vitesse InQuest avec un taux d'acquisition de données de 100 kHz et une constante de temps de 20 µs
- Système de mouvement XYZ pour le ciblage des échantillons
- Capture vidéo SEM pour la synchronisation des images SEM avec les données d'essai
- Système unique d'étalonnage des pointes intégré au logiciel pour un étalonnage rapide et précis des pointes
- Logiciel de contrôle et d'examen des données InView compatible avec Windows ®10 et développeur de méthodes pour les expériences conçues par l'utilisateur
Applications
- Mesures de dureté et de module (Oliver-Pharr)
- Mesure continue de la rigidité
- Cartes des propriétés des matériaux à grande vitesse
- Essais de dureté ISO 14577
- Analyse mécanique dynamique nanométrique (DMA)
- Essais quantitatifs de rayure et d'usure
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