Machine d'inspection optique Surfscan® series

de surfacepour wafer non gravéindustrielle

Le système d'inspection de plaquettes de silicium non peintes Surfscan® SP7XP identifie les défauts et les problèmes de qualité de surface qui affectent les performances et la fiabilité des dispositifs logiques et de mémoire de pointe. Il soutient la fabrication de circuits intégrés, d'équipementiers, de matériaux et de substrats en qualifiant et en contrôlant les outils, les processus et les matériaux, y compris ceux utilisés pour la lithographie EUV. Grâce à un laser DUV et à des modes d'inspection optimisés, le Surfscan SP7XP offre une sensibilité optimale pour la recherche et le développement de nœuds avancés, ainsi que le débit nécessaire à la fabrication en grande série. Des modes de détection complémentaires, notamment le canal à contraste de phase (PCC) et l'éclairage normal (NI), permettent de détecter des types de défauts uniques pour les plaquettes nues, les films lisses et rugueux, les résines fragiles et les piles de lithographie. La classification des défauts basée sur l'image (IBC), qui utilise des algorithmes révolutionnaires d'apprentissage automatique, prend en charge un temps plus rapide pour trouver la cause première, tandis que le moteur de classification Z7™ prend en charge les applications uniques de NAND 3D et de films épais. Les systèmes d'inspection de plaquettes sans motif Surfscan® SP A2 et Surfscan® SP A3 identifient les défauts et les problèmes de qualité de la surface des plaquettes qui affectent les performances et la fiabilité des puces fabriquées pour l'automobile, l'IoT, la 5G, l'électronique grand public et les applications industrielles (militaires, aérospatiales, médicales). Ces systèmes d'inspection soutiennent la fabrication de dispositifs, d'OEM, de matériaux et de substrats en qualifiant et en contrôlant les outils, les processus et les matériaux. Utilisant un laser DUV et des modes d'inspection optimisés, les systèmes Surfscan SP Ax offrent la sensibilité requise pour soutenir les stratégies de réduction des défauts des fabs.