Système de test pour semiconducteurs S530 series

haute tensionmoyenne tensionbasse tension

Les technologies actuelles de semi-conducteurs analogiques et de puissance, notamment GaN et SiC, nécessitent des tests paramétriques qui optimisent les performances de mesure, prennent en charge un large éventail de produits et minimisent le coût des tests. Depuis plus de 40 ans, Keithley relève ces importants défis ainsi qu'à d'autres dans des applications critiques comme l'intégration des procédés, le contrôle des procédés, le tri des puces en production (par exemple, test d'acceptation des wafers ou test des puces reconnues fiables) et la fiabilité. Les systèmes de test paramétrique Keithley S530 avec le logiciel KTE 7 offrent des configurations rapides et entièrement flexibles qui peuvent évoluer en fonction de l'émergence de nouvelles applications et de l'évolution des exigences. Le S530 permet de réaliser des tests jusqu'à 200 V, et le S530-HV jusqu'à 1 100 V sur n'importe quelle broche, augmentant le débit jusqu'à 50 % par rapport aux solutions concurrentes. La nouveauté du logiciel KTE 7 consiste en une tête de test du système en option qui permet de l'arrimer directement à une sonde et de réutiliser des cartes de sondes existantes, de procéder à un étalonnage de broche ISO-17025 au niveau du système en respectant les exigences de la norme automobile IATF-16949, et qui offre le chemin de migration le plus facile et le plus fluide à partir des systèmes existants S600 et S400, avec une corrélation complète des données et des vitesses supérieures. Entièrement automatisé et comportant 48 broches, le système de test paramétrique 540 est dédié aux tests au niveau du wafer des composants et structures à semi-conducteurs de puissance jusqu'à 3 kV.