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Microscope EDX PSEpour inspection de matériaucorrélatif
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Caractéristiques
- Type
- EDX
- Applications
- pour inspection de matériau
- Autres caractéristiques
- corrélatif
Description
Mikroscopie corrélative : Combinaison de données optiques et SEM
MEB avec EDX : JOMESA PSE
-Lit les informations sur les particules à partir d'une base de données
-Analyse SEM-EDX rapide de particules sélectionnées
-Optionnel : Analyse complète ou analyse de toutes les particules optiques
-Enregistre les résultats dans la base de données
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.