Plaquette d'essais optique MOT-F Series

Vibration à bande large de ▪ atténuant le dessus pour éliminer les vibrations synchronisées extérieures Structure d'âme en nid d'abeilles de ▪ Dessus propre de ▪ avec les tasses scellées Haute densité de ▪ avec le poids inférieur d'individu et la rigidité élevée Durée de vie durable de ▪ sans braquages dus à la contrainte résiduelle Installation facile de ▪ et simple pour employer sans entretien persistant Applications : microscopie ▪Scanning de perçage d'un tunnel (AFM/LFM/STM) ▪Interferometry microscopie de ▪Electron