Microscope électronique à balayage JSM-IT810

d'inspectionSchottky à émission de champEBSD

Amélioration de l’expérience utilisateur avec l’utilisation d’automatismes de réglage, d’observation et d’analyse De nouvelles fonctions sont disponibles pour garantir l’acquisition de données de haute qualité. Parmi ces fonctions, nous avons le live 3D, la correction trapézoïdale pour les acquisitions EBSD, et bien d’autres. L’utilisation d’un MEB FEG n’a jamais été aussi facile qu’avec la série JSM-IT810. Caractéristiques Fonction d’observation et d’analyse automatique « Neo Action » L’observation MEB et l’analyse EDS peuvent être automatisées en réglant simplement les conditions d’analyse et en sélectionnant les zones à mesurer. Ajustement automatique du MEB (Option) Nous utilisons un échantillon dédié pour effectuer l’étalonnage du grossissement, l’alignement du faisceau et l’étalonnage de l’énergie EDS. Des contrôles réguliers permettent de maintenir l’équipement dans un état optimal. Notre détecteur BSE multi-segmenté, de type semi-conducteur, est utilisé pour créer une reconstruction 3D en direct sur la surface de l’échantillon. Vous pourrez visualisez l’image 3D en temps réel pour vérifier la topologie de l’échantillon. L’intégration de l’EDS dans le logiciel de contrôle du microscope permet une utilisation simplifiée. Diverses méthodes d’analyse telles que les pointés, la zone, la cartographie et la ligne peuvent être sélectionnés directement sur l’écran d’observation, ce qui permet de lancer immédiatement une analyse.