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Microscope électronique à balayage JSM-IT800 series
pour analyse3Dau sol

microscope électronique à balayage
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage
Applications
pour analyse
Technique d'observation
3D
Configuration
au sol
Source d'électrons
Schottky à émission de champ
Type de détecteur
EBSD
Autres caractéristiques
d'observation, pour semi-conducteur, pour la topographie
Grossissement

Min: 10 unit

Max: 5 480 000 unit

Résolution spatiale

Min: 0,7 nm

Max: 3 nm

Description

Le microscope électronique à balayage JSM-IT800, équipé d’un canon à effet de champ Schottky In-Lens (brevet JEOL) et d’un spectromètre à rayons X à dispersion d’énergie (EDS), présente une nouvelle interface graphique permettant l’acquisition sans interruption de données, depuis l’observation jusqu’à l’analyse élémentaire. Hautement performant, automatique, le JSM-IT800 améliore l’efficacité du travail de plus de 50%. Cet appareil peut être personnalisés selon vos applications et vos besoins. Il permet ainsi de couvrir la totalité des champs scientifique de la biologie aux sciences durs des matériaux. Le microscope électronique à balayage JSM-IT800 utilise une plateforme facile d’utilisation, le SEM Center, cette plate-forme est commune avec une gamme complète de fonctionnalités allant de l’observation en haute résolution à la cartographie élémentaire à grande vitesse. Ce microscope comprend le canon à effet de champ Schottky in lens Plus (brevet JEOL), le système de contrôle optique électronique Neo Engine et le système EDS JEOL entièrement intégré. De plus, avec sa lentille hybride de conception innovante, il permet de satisfaire les besoins très divers de tous les utilisateurs (échantillons magnétiques compris). .

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JIMTOF 2024
JIMTOF 2024

5-10 nov. 2024 Tokyo (Japon)

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