Microscope FIB/SEM JIB-PS500i

de laboratoire3Dhaute résolution

Le multibeam JIB-PS500i offre trois solutions pour faciliter la préparation des échantillons MET. Le workflow a été développé pour réduire le temps passé de la préparation de l’échantillon à l’observation MET. TEM-linkage JEOL a développé un concept de cartouche à double inclinaison qui peut être utilisée dans le FIB et transférée dans le MET, facilitant ainsi le couplage entre le MET et le FIB. La cartouche peut être fixée au porte-échantillon MET dédié d’une simple pression. Check-and-go Pour préparer avec précision et efficacité un échantillon MET, il est essentiel de vérifier rapidement la progression de la préparation. Grâce à sa platine à forte inclinaison et à la position idéale des détecteurs dans la chambre, le JIB-PS500i permet une transition fluide entre la préparation FIB et l’imagerie STEM. Les transitions rapides entre le traitement des lames et l’imagerie STEM permettent une préparation efficace des échantillons. Préparation automatique Le JIB-PS500i intègre un système d’automatisation de préparation des lames minces appelé TEM STEMPLING2*. Ce système permet à tout opérateur de préparer automatiquement et avec aisance les échantillons pour le MET. Imagerie MEB haute résolution et hauts contrastes N’hésitez plus, ne ratez plus l’amincissement final de vos lames minces. Les images MEB de haute qualité vous aident. Système de détection des signaux Plusieurs détecteurs sont disponibles, notamment le SED standard, l’UED et l’iBED. La sélection du détecteur optimal permet d’observer des images nettes de divers échantillons dans diverses conditions expérimentales.