Microscope FIB/SEM CRYO-FIB-SEM

industrielà fluorescence

Préparation d’échantillons MET cryogéniques Le nouveau CRYO-FIB-SEM intègre une platine cryogénique refroidie à l’azote liquide ainsi qu’un mécanisme de transfert d’échantillons pour les échantillons congelés. Ces intégrations permettent de préparer des échantillons MET tels que des biopolymères, des échantillons biologiques congelés, des matériaux sensibles à la température… Le mécanisme de transfert d’échantillons est doté d’une fonction de métallisation. Par conséquent, ce CRYO-FIB peut à lui seul réaliser tout le processus de préparation des échantillons MET à partir d’échantillons congelés, en incluant un dépôt de conduction, un film protecteur et la préparation FIB. En outre, en utilisant la cartouche CRYO ARM™ de JEOL, il est possible de transférer l’échantillon directement dans le MET CRYO ARM™ de JEOL après avoir fini la préparation de la lame mince, simplifiant ainsi de processus de préparation et d’analyse. Caractéristiques • Transfert d’échantillons cryogéniques à l’aide de la cartouche CRYO ARM™ • Après avoir fixé l’échantillon dans la cartouche, il n’est plus nécessaire de manipuler la grille MET à l’aide d’une pince. Cela permet de faciliter/accélérer le transfert d’échantillons et ainsi de réduire les temps de manipulation. • Platine cryogénique avec une stabilité accrue • La système développé pour la conduction thermique sur la platine cryo réduit la dérive et les vibrations de cette dernière, améliorant ainsi la stabilité des échantillons MET. • Dispositif anticontamination unique développé par JEOL