Machine de polissage pour métaux IB-19520CCP

pour la préparation d'éprouvettesnumériqueUGV

Préparer des échantillons pour microscope électronique à balayage (MEB), microsonde de Castaings (EPMA) ou FIB Le polisseur ionique IB 19520CCP (Cryo Cross Section Polisher) permet de préparer tous types d’échantillons sensibles à l’air. L’échantillon est préparé sous atmosphère contrôlée puis transféré dans le polisseur ionique afin de procéder à la découpe ou au polissage ionique. Une fois le procédé ionique terminé, il est possible de déposer un film de carbone sur l’échantillon directement dans la chambre du CCP pour protéger sa surface et la rendre conductrice. À la fin de la préparation, l’échantillon est transporté dans un boitier de transfert (à l’abri de l’air pour éviter le phénomène d’oxydation) depuis le Cross section Polisher vers un microscope électronique à balayage (MEB), une microsonde ou un FIB JEOL, pour l’observation et l’analyse. Le modèle IB-19520CCP possède un mode cryogénique pour les échantillons nécessitant un refroidissement à la température de l’azote liquide. Il est possible de moduler la température selon les échantillons. Exemple de la bande élastique 1. À température ambiante on observe des dommages thermiques. 2. Refroidi à 120°C, on observe des phénomènes de « shrinking » lié à la température. 3. Refroidi à 70°C, on n’observe aucune altération de la surface. On arrive même à mettre en évidence les inclusions.