Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie JED-2300T

pour l'analyseportatifSDD

La station d'analyse JED-2300T est un système d'intégration TEM/EDS basé sur le concept "image et analyse". La gestion des données est assurée par la collecte automatique des paramètres tels que le grossissement et la tension d'accélération, ainsi que des données d'analyse. Caractéristiques Trois types de détecteur de dérive du silicium (SDD) EDS sont disponibles, avec une zone de détection de 30 mm2, 60 mm2 et 100 mm2 respectivement. Plus la zone de détection est grande, plus la sensibilité de détection augmente. En incorporant le détecteur Dry SD100GV (zone de détection de 100 mm2) au JEM-ARM200F (HRP), on obtient simultanément une grande zone de réception de la lumière et une haute résolution, ce qui permet de distinguer clairement les éléments lumineux tels que "B,C,N,O". Cartographie élémentaire à grande vitesse Le détecteur sec SD100GV, doté d'une grande sensibilité, détecte une particule de catalyseur Au en seulement une minute de temps de mesure. - Spécimen : Particule de catalyseur Au supportée par de l'oxyde de Ti - Instrument : JEM-ARM200F + détecteur sec SD100GV - Durée de la mesure : environ 1 minute - Courant de la sonde : 1nA - Nombre de pixels : 256 x 256 pixels - Cartographie de la résolution atomique - Les colonnes atomiques de Sr et Ti sont clairement séparées. Cartographie de la résolution atomique Les colonnes atomiques de Sr et Ti sont clairement séparées. - Spécimen : SrTiO3 - Instrument : JEM-ARM200F + détecteur Dry SD100GV - Durée de la mesure : environ 10 minutes - Courant de la sonde : 1nA - Nombre de pixels : 128 x 128 pixels