Socket de test de rodage DCL-QFP1414-100-P050

QFN

Latch Lock pour ou QFP,SOP Produits standard La prise de test qui permet de mesurer le signal de transmission à grande vitesse en adoptant la méthode de contact qui presse directement le fil du dispositif contre la carte. Le "Latch Lock type" qui fixe le couvercle de la prise avec un loquet vous permet de remplacer le dispositif efficacement car le couvercle peut être attaché et détaché simplement en le pressant par le haut. Nous disposons d'une gamme de produits standard qui correspondent aux dimensions des dispositifs QFP/SOP et qui peuvent être livrés rapidement. [Application] - Montage sur PCB pour la production de masse - Test final et inspection en environnement réel (ex. automobile, robotique, appareils électriques pour la mobilité) - Analyse des défaillances des circuits intégrés Étant donné que la prise IC générale comporte des bornes (sonde à ressort, palette, etc.) entre la carte et le dispositif, le nombre de contacts augmente et le signal se détériore ou s'atténue, mais cette prise est dans un état proche de la soudure. Elle est idéale pour évaluer les circuits intégrés à grande vitesse car elle supprime la détérioration du signal. En plus du type Latch Lock présenté sur cette page, nous avons la gamme suivante. - Type de verrouillage à loquet et à vis - Type à levier rotatif - Type à vis on constate que les caractéristiques sont améliorées lors de l'utilisation d'une douille conventionnelle et lors de l'utilisation d'une douille à contact direct. ・Comme le couvercle peut être fixé et détaché simplement en le pressant par le haut, le dispositif peut être remplacé efficacement. ・La gestion du couple n'est pas nécessaire depuis le réglage de l'appareil jusqu'à la préparation de la mesure. ・Nous disposons d'une gamme de produits standard qui correspondent aux dimensions des dispositifs QFN/SOP. ・Une livraison rapide est possible.