Logiciel de mesure CompleteEASE

de cartographieautomatisé

La nouvelle génération de logiciels d'ellipsométrie est arrivée avec CompleteEASE®, notre nouveau logiciel révolutionnaire pour les ellipsomètres Woollam. Il est plus facile que jamais à utiliser, avec la qualité de classe mondiale que vous êtes en droit d'attendre de Woollam Company. CompleteEASE est inclus dans les systèmes M-2000, RC2, iSE, theta-SE et alpha-SE. CompleteEASE® est un logiciel tout compris qui répond à tous vos besoins en matière d'ellipsométrie. Mesurez facilement l'uniformité de vos échantillons avec la cartographie automatisée des échantillons. Collectez des données in-situ avec l'ellipsométrie spectroscopique sur votre chambre de traitement ou avec un étage de contrôle de la température ou une cellule liquide. Tous vos besoins en matière d'acquisition de données sont réunis dans un seul logiciel facile à utiliser. Créez vos propres recettes pour collecter des données, automatiser la cartographie et analyser vos échantillons - le tout en une seule étape. La commodité et la simplicité se combinent pour un fonctionnement par bouton-poussoir. CompleteEASE® comprend des modèles intégrés couvrant un large éventail d'échantillons types. Les modèles intégrés décrivent de manière pratique comment traiter les données pour déterminer les propriétés des films minces. CompleteEASE comprend également plus de 400 fichiers de matériaux et équations de dispersion pour aborder une grande variété de films minces - des diélectriques et organiques aux semi-conducteurs et métaux. Le Thickness Pre-Fit de CompleteEASE trouve rapidement et automatiquement la meilleure épaisseur correspondant aux données à l'aide d'un algorithme spécial breveté. Éliminez les conjectures lorsque l'épaisseur nominale du film est inconnue. La couche B-spline a été développée dans CompleteEASE comme une alternative aux ajustements directs ou aux modèles d'oscillateurs.