L'iSE est un nouvel ellipsomètre spectroscopique in-situ développé pour le suivi en temps réel du traitement des films minces. Grâce à notre technologie éprouvée, l'iSE permet aux utilisateurs d'optimiser les propriétés optiques des films déposés, de contrôler la croissance des films avec une sensibilité inférieure au angström et de surveiller la cinétique de croissance.
Puissant
Grâce à la puissance de l'ellipsométrie spectroscopique (SE), l'iSE est capable de mesurer l'épaisseur et les propriétés optiques avec une certitude bien supérieure à celle des autres techniques.
Compact
Le nouveau design compact permet une intégration facile dans n'importe quelle chambre.
Polyvalent
Détermine avec précision l'épaisseur et les propriétés optiques d'une grande variété de films minces, notamment les métaux, les semi-conducteurs, les oxydes, les nitrures, etc.
Abordable
La puissance de l'ellipsométrie spectroscopique à un prix raisonnable.
Facile à utiliser
Interface conviviale pour l'analyse en temps réel de la croissance et de la gravure des films minces.
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