La technologie Raman de HORIBAs est facilement couplée aux microscopes à sonde à balayage (SPM). La plate-forme permet la microscopie à force atomique (AFM), les techniques optiques en champ proche (SNOM, NSOM), la microscopie à balayage à effet tunnel (STM) et la spectroscopie optique confocale (Raman et imagerie par fluorescence) dans un instrument polyvalent, prêt pour la spectroscopie Raman améliorée par pointe (TERS) ou les mesures co-localisées.
La stabilité à long terme et la vitesse exceptionnelles de notre plate-forme Raman-AFM intégrée apportent des résultats fiables tant pour les mesures co-localisées que pour l'imagerie TERS. Une plate-forme unique de mesures simultanées assure une corrélation réelle des images que vous obtenez.
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