Microscope électronique à balayage à émission de champ SU3800SE/SU3900SE
multiusageinspection de l'acierpour inspection de matériau

Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU3800SE/SU3900SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - multiusage / inspection de l'acier / pour inspection de matériau
Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU3800SE/SU3900SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - multiusage / inspection de l'acier / pour inspection de matériau
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Caractéristiques

Applications
pour inspection de matériau, inspection de l'acier, industriel, multiusage
Configuration
au sol
Source d'électrons
Schottky à émission de champ
Autres caractéristiques
haute résolution, d'observation
Grossissement

Max: 600 000 unit

Min: 5 unit

Résolution spatiale

0,9 nm, 2,5 nm

Description

Les MEB SU3800SE et SU3900SE d'Hitachi offrent des solutions d'imagerie et d'analyse polyvalentes pour diverses applications. Ces instruments offrent une imagerie haute résolution, une navigation intuitive et une automatisation avancée, ce qui permet d'obtenir des résultats fiables et cohérents dans les environnements de recherche et industriels. Leur flexibilité permet des flux de travail efficaces pour les échantillons industriels standard et de grande taille, améliorant ainsi la productivité et la reproductibilité. Caractéristiques principales : Manipulation flexible des échantillons - SU3900SE : manipule des échantillons de grande taille, jusqu'à 300 mm de diamètre, 130 mm de hauteur et 5 kg. Sa platine 5 axes eucentrique robuste permet d'imager des matériaux industriels tels que des pièces automobiles sans les redimensionner, ce qui permet d'économiser du temps et des efforts. Il peut accueillir plusieurs échantillons pour des inspections automatisées. - SU3800SE : prend en charge des échantillons plus petits, jusqu'à 200 mm de diamètre, 80 mm de hauteur et 2 kg, pour des applications plus larges. Navigation sans effort et contrôle de précision Platine motorisée à 5 axes (X, Y, Z, inclinaison, rotation) avec modèle d'auto-collision pour une navigation sûre et précise. Un système de caméra optique avancé permet un positionnement précis sur de grands échantillons. Imagerie haute résolution à alignement automatique - L'optique à émission de champ Schottky offre des performances d'imagerie élevées sans interférences magnétiques ou électriques. Le mode à pression variable permet d'observer des échantillons non conducteurs sans préparation supplémentaire. L'alignement automatique accélère la configuration, ce qui permet aux opérateurs de tous niveaux d'obtenir des résultats de qualité. Des flux de travail automatisés pour plus d'efficacité - L'EM Flow Creator automatise les tâches répétitives, réduisant ainsi la charge de travail. Les recettes d'observation personnalisables garantissent des résultats cohérents et de haute qualité avec un minimum de données, ce qui est idéal pour les laboratoires soucieux d'efficacité.

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