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- Spectromètre EDX
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
Spectromètre à rayons X Element seriesEDXpour analyses élémentairesde paillasse
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Caractéristiques
- Type
- à rayons X, EDX
- Domaine
- pour analyses élémentaires
- Configuration
- de paillasse
- Type de détecteur
- SDD
Description
Les systèmes de la série Element sont des systèmes EDX produits par EDAX Instruments. La fenêtre SDD Si3N4 améliore la vitesse de cartographie et les limites de détection.
Fenêtre Si3N4
Fenêtre Si3N4 pour optimiser la transmission des rayons X à faible énergie pour l'analyse des éléments légers. La fenêtre du détecteur conventionnel améliore la vitesse de cartographie et la limite de détection.
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Catalogues
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