Microscope électronique à balayage à émission de champ SU8600
pour analyse3Dà émission de champ froid

Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - pour analyse / 3D / à émission de champ froid
Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - pour analyse / 3D / à émission de champ froid
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage à émission de champ
Applications
pour analyse
Technique d'observation
3D
Source d'électrons
à émission de champ froid
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, détecteur de rayons X à dispersion d'énergie
Autres caractéristiques
automatisé, ultra haute résolution
Grossissement

Min: 20 unit

Max: 2 000 000 unit

Résolution spatiale

0,6 nm, 0,7 nm

Description

Le SU8600 est le successeur de la famille éprouvée de MEB à émission de champ Regulus et répond aux exigences les plus élevées pour les applications orientées vers l'imagerie. L'émetteur à champ froid, dont l'émission est presque monochromatique, associé à une lentille d'immersion magnétique, élimine la nécessité de renforcer le faisceau. Il offre donc une résolution supérieure, même à de faibles énergies de faisceau, ainsi qu'une séparation stable et précise des signaux en fonction de l'angle et de l'énergie du faisceau. Le SU8600 CFE-SEM offre également des performances de pointe dans les travaux analytiques utilisant des détecteurs spécifiques. Par exemple, vous pouvez ajouter des détecteurs EDX sans fenêtre pour une analyse optimale des éléments légers. Ceux-ci peuvent être utilisés avec le SU8600 dans toute la gamme d'énergie du faisceau jusqu'à 30keV, et aux distances de travail les plus courtes, à partir de 4 mm, grâce à la lentille d'immersion magnétique. Vous pouvez également combiner le MEB avec le détecteur EDX Bruker FlatQuad avec un angle solide de plus de 1sr pour une efficacité maximale du signal. Des courants d'échantillon jusqu'à 20nA sont disponibles. Caractéristiques du produit : - Émetteur de champ Hitachi très durable, presque monochromatique, combiné à une lentille d'immersion magnétique - Système de détection étendu, configurable de manière flexible, avec filtrage fin de l'énergie et affichage en direct de l'image sur 6 canaux pour une évaluation complète de l'échantillon - S'harmonise bien avec les détecteurs EDX sans fenêtre - Des fonctions fiables et automatisées permettent d'obtenir un MEB facile à utiliser et très performant. Ces fonctions comprennent le réglage des conditions d'observation définies par l'utilisateur, l'excellente mise au point automatique 2D et le stigmateur automatique, etc. - La chambre d'échange d'échantillons permet de charger rapidement et proprement des échantillons d'un diamètre maximal de 150 mm. La platine d'échantillonnage eucentrique à 5 axes offre des plages de déplacement X,Y de 110 mm x 110 mm

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