Microscope électronique à balayage SU series

pour mesure de rugosité de surfacepour analysepour la recherche

Performance et puissance dans une plate-forme flexible Les microscopes électroniques à balayage SU3800/SU3900 d'Hitachi High-Tech sont à la fois opérationnels et évolutifs. L'opérateur peut automatiser de nombreuses opérations et utiliser efficacement leurs hautes performances. Le SU3900 est équipé d'une grande chambre à échantillons polyvalente pour permettre l'observation d'échantillons de grande taille. 1.La chambre d'échantillons considérablement plus grande permet d'observer des échantillons lourds et surdimensionnés ■Scène robuste pour la flexibilité de la taille, de la forme et du poids des échantillons - La séquence d'échange des échantillons permet d'éviter d'endommager le système ou l'échantillon. - Échangez les échantillons sans purger la chambre d'échantillons, ce qui améliore le rendement. - Améliorez la manipulation des échantillons grâce au mode "Stage Free "*. - Le Chamber Scope améliore la sécurité des mouvements de la platine*. ■Accroissement de la zone de visualisation - SEM MAP repousse les limites de la navigation dans les échantillons - Affichage intégré de la caméra dans la chambre - Navigation aisée dans l'ensemble de la zone observable - Rotation orientée vers le détecteur 2.Évolution du marché - Fonctions automatiques améliorées pour les opérateurs de tout niveau de compétence ■Multiples modes de fonctionnement ■ Fonctions automatiques pour les opérateurs de tout niveau de compétence Algorithmes automatiques améliorés - 3 fois plus rapides (par rapport au modèle Hitachi S-3700N) Fonction de mise au point automatique améliorée Caractéristiques de notre technologie exclusive Intelligent Filament Technology (IFT) : ■Multi Zigzag permet d'observer des zones étendues sur plusieurs zones. ■Report Creator génère des rapports sur les données acquises. 3.Solutions intégrées pour diverses applications ■Une variété d'accessoires pouvant être montés sur n'importe lequel des 20 ports de la chambre à échantillons innovante SU3900. ■SEM/EDS Integration System* (Système d'intégration SEM/EDS)