Microscope STEM HF5000

pour la recherche en matériauxpour l'analyse de matériaude métrologie

Le HF5000 est un S/TEM corrigé en Cs qui peut être personnalisé pour des expériences in situ. La particularité est le détecteur Everhart Thornley SE, qui image la surface de l'échantillon à 60-200kV, comme dans un MEB. Ceci est particulièrement avantageux pour les expériences in situ sur le gaz et le chauffage, dans lesquelles le gaz réagit avec la surface de l'échantillon. Grâce au correcteur Cs, la surface peut être visualisée avec une résolution atomique. La commutation routinière et rapide entre TEM et STEM facilite le travail quotidien avec un correcteur Cs entièrement automatisé, même pour les débutants dans le domaine de la TEM. Caractéristiques du produit : - Source d'électrons à émission de champ froid avec une bande d'émission énergétiquement étroite, idéale pour l'imagerie à haute résolution et l'EELS - Correcteur de Cs STEM Hitachi, entièrement automatisé - Détecteur d'électrons secondaires pour la superposition d'informations sur la surface de l'échantillon en corrélation avec le signal des électrons transmis - Expériences ETEM possibles, par exemple, dans une atmosphère gazeuse ouverte