Microscope SEM TM4000 series
pour analysede mesurepar contraste des numéros atomiques

Microscope SEM - TM4000 series - Hitachi High-Tech Europe GmbH - pour analyse / de mesure / par contraste des numéros atomiques
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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
pour analyse, de mesure
Technique d'observation
par contraste des numéros atomiques, par topographie
Configuration
de paillasse, compact
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, d'électrons secondaires
Autres caractéristiques
simple d'installation, à caméra numérique, haute résolution, automatisé, de traitement d'images, économique, motorisé, pour les sciences de la Terre, pour nanotechnologie, pour utilisation dans de l'air ou du liquide, pour la topographie, avec fonction de profilométrie, à balayage avec pression variable, pour intégration sur microscope et profilomètre, pour identification d'amiante, pour échantillon plat, à fort contraste, pour échantillons polis, à fort grossissement
Grossissement

Min: 10 unit

Max: 25 000 054 unit

Poids

54 kg
(119 lb)

Longueur

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Largeur

330 mm
(13 in)

Hauteur

547 mm
(21,5 in)

Description

La série TM4000 se caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre la facilité d'utilisation, l'imagerie optimisée et la qualité d'image élevée, tout en conservant la conception compacte des produits bien établis de la série TM d'Hitachi. Découvrez la nouvelle dimension des microscopes de table avec les modèles Hitachi TM4000 II et TM4000Plus II. Des étapes simples permettent d'obtenir une image de qualité. Automatisation, observation et analyse élémentaire Changement d'image en un seul clic. Acquisition rapide de cartes élémentaires * Échantillon : Mouvement d'une montre Fonctionnement intuitif de Camera Navi * L'utilisation d'images optiques permet de naviguer facilement vers la zone d'observation cible. Les images SEM obtenues peuvent être superposées à une image SEM MAP. Créateur de rapports Il suffit de sélectionner des images et un modèle pour créer un rapport personnalisé. Les rapports créés peuvent être sauvegardés/édités dans les formats Microsoft Office®. Diverses applications d'imagerie utilisant l'état de vide faible 4 sous. Mode de réduction de la charge La charge d'un échantillon peut être réduite en un seul clic. Prise d'images d'une variété de matériaux dans des conditions de vide réduit Les images montrent des observations d'échantillons non conducteurs tels que des particules de toner d'encre et une surface de feuille hydratée. Détecteur innovant à sélection secondaire pour obtenir des détails de surface avec des échantillons non conducteurs dans des conditions de vide réduit Le TM4000Plus II peut observer non seulement des échantillons conducteurs, mais aussi des échantillons non conducteurs ou hydratés sans préparation de l'échantillon. Le passage de l'ESB à l'ES peut se faire facilement.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.